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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:ULVAC愛發(fā)科掃描型熱探針微圖像

  • 產(chǎn)品型號:STPM-1000
  • 產(chǎn)品廠商:ULVAC愛發(fā)科
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡單介紹:
材料的面內(nèi)分布評價、分析。 本裝置能夠同時測量澤貝克系數(shù)和導(dǎo)熱系數(shù)的面內(nèi)二維分布。能在20μm節(jié)距進行材料圖譜分析。
詳情介紹:
材料的面內(nèi)分布評價、分析。
本裝置能夠同時測量澤貝克系數(shù)和導(dǎo)熱系數(shù)的面內(nèi)二維分布。能在20μm節(jié)距進行材料圖譜分析。

特點

  • 可以在20μm間距進行分布分析評估
  • 使用標準物質(zhì)進行校準可以提高導(dǎo)熱系數(shù)的準確度

用途

  • 熱電材料的簡單性能評估
  • 功能分級的材料的熱特性分布評估
  • 無機材料,高分子材料和結(jié)晶材料的均勻性評估
  • 實際使用材料(印刷電路板,多層板等)的缺陷評估

規(guī)格

類型 STPM-1000型
測量溫度 室溫 + 5°C
*大樣本量 方形 20 mm × 厚度 5 mm
塞貝克系數(shù)的精度 ±10%(按厚度1mm的單個散裝樣品)
導(dǎo)熱系數(shù)精度* ±50%(按厚度1mm的單個散裝樣品)
某一點的測量時間 小于 10 秒。
本地分辨率 20微米
位置控制的分辨率 1微米
樣品移動距離 X 軸 50 mm,Y 軸 50 mm,Z 軸 10 mm

*未知樣品的熱導(dǎo)率可以通過已知熱導(dǎo)率的參考樣品和比較校準來估計。

測量原理

img_stpm-100001.png

塞貝克系數(shù)
根據(jù)接觸點 Tcp 和 T3 處溫度之間的電壓差 (ΔV) 和溫差 (ΔV) 計算。
(Tcp 是根據(jù) T1 和 T2 計算得出的。

導(dǎo)熱系數(shù)
從 T1 - T2 計算。

測量示例

塞貝克系數(shù)和熱導(dǎo)率分布以及塞貝克系數(shù)和熱導(dǎo)率的組成依賴性 (Bi1-xSbx2Te3(0.5<x<1)

img_stpm-100002_1_1.jpgimg_stpm-100002_2_1.jpg

塞貝克系數(shù)分布

img_stpm-100002_3_1.jpg

導(dǎo)熱系數(shù)分布

img_stpm-100003_1_1.jpg

塞貝克系數(shù)的成分依賴性

img_stpm-100003_2_1.jpg

導(dǎo)熱系數(shù)的成分依賴性

應(yīng)用

  • 熱電材料的簡單性能評估
  • 功能梯度材料的熱性能分布評估
  • 無機材料、高分子材料和晶體材料的均質(zhì)性評價
  • 實用材料(印刷基材、多層基材等)的缺陷評估

效用

電源 AC 100V 15A(不包括PC)
外形尺寸 W510 × D650 × T460 (毫米)
重量 約70kg
空間要求 工作臺約W1200×D900(mm)
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