高效、易操作

CombiScope配備了全電動懸臂架和光電二極管定位，具有自動一鍵點式激光-針尖準直功能。這大大簡化了整個系統(tǒng)調(diào)整過程，并提供了*高水平的系統(tǒng)再現(xiàn)性。此外，在安裝相同或甚至不同類型的新懸臂梁后，樣品表面上的相同感興趣區(qū)域（在幾微米的重復性范圍內(nèi)）可以很容易地找回并掃描，而無需任何額外的操作。

**掃描器

CombiScope配備精密運動控制***PI公司提供的閉環(huán)、高動態(tài)、3軸壓電納米定位掃描器。**掃描器是該系統(tǒng)的核心，使其能夠?qū)崿F(xiàn)高線性、高穩(wěn)固性和高精準性運動。

1300 nm AFM激光器

1300nm原子力顯微鏡反饋激光和常用的紫外、可見光和近紅外拉曼激光（364-830 nm）毫無相互干擾，并且消除了對可見光敏感生物和半導體樣品的任何干擾。

耦合光學顯微鏡

倒置光學顯微鏡：尼康Eclipse Ti-U、Olympus IX-71等（具有相位反差和DIC）

平場消色差物鏡：頂部100x，NA=0.7；側向10x，NA0.28

耦合透射和反射（頂部）光路配置，利用光學、拉曼和掃描探針顯微鏡技術研究透明和非透明樣品

在液體中工作的解決方案

標準的CombiScope樣品架可容納所有常見的樣品襯底，包括載玻片、蓋玻片和35 mm培養(yǎng)皿。特殊設計的液體池具有加熱和液體灌注功能，可在生理環(huán)境和高達60°C的溫度維系下生物樣品。

一臺儀器即可實現(xiàn)所有操作模式

CombiScope平臺在一臺儀器中配備了所有現(xiàn)代AFM操作模式，無需任何額外硬件和成本。它包括諸如力模式、納米蝕刻、壓電力顯微鏡（PFM）、開爾文探針顯微鏡和調(diào)頻AFM（內(nèi)置PLL的動態(tài)力顯微鏡）等特殊應用模式。此外，也可以選配掃描隧道顯微鏡（STM）頭和導電AFM在100 fA–10μA范圍內(nèi)工作（1 nA、100 nA和10μA三檔量程自由切換，1nA量程的電流噪聲為60 fA）和近場光學顯微鏡（SNOM）。CombiScope特殊多功能性平臺已經(jīng)成為納米科學的**解決方案。

測量模式

空氣中接觸AFM；

液體接觸AFM（可選）；

空氣中的半接觸原子力顯微鏡；

液體半接觸原子力顯微鏡（可選）；

真正的非接觸式原子力顯微鏡；

動態(tài)力顯微鏡（DFM、FM-AFM）；

耗散力顯微鏡；

Top模式；

相位成像；

側向力顯微鏡（LFM）；

力調(diào)制；

導電原子力顯微鏡（可選）；

I-Top模式（可選）；

磁力顯微鏡（MFM）；

開爾文探針（表面電位顯微鏡）；

單通開爾文探頭；

電容顯微鏡（SCM）

電力顯微鏡（EFM）；

單通道MFM/EFM（“平面掃描”）；

力曲線測量；

壓電響應力顯微鏡（PFM）；

PFM Top模式；

納米光刻技術；

納米操縱；

STM（可選）；

光電流成像模式（可選）；

伏安特性測量（可選）；

帶音叉的剪切力顯微鏡（ShFM）；

音叉法向力顯微鏡。

液體測量模式（測試頭HE001）

接觸模式AFM；

半接觸原子力顯微鏡；

Top Mode；

相位成像；

側向力顯微鏡；

力調(diào)制；

力曲線測量；

納米蝕刻；

納米操縱。

SmartSPM掃描器和基座

閉環(huán)平板掃描器： 100 μm x 100 μm x 20 μm (±10 %)

掃描器非線性：XY≤0.05 %; Z≤0.05 %

噪聲水平：XY≤0.1 nm RMS（200 Hz帶寬，電容傳感器打開）；XY≤0.02 nm RMS（100 Hz帶寬，電容傳感器關閉）；Z＜0.1 nm RMS （1000 Hz帶寬，電容傳感器開）

高頻掃描器：XY≥7 kHz; Z≥15 kHz

基座

• 手動樣品定位范圍：25 mm×25 mm
• 電動SPM測量頭定位范圍：1.6 mm×1.6 mm
• 電動趨近量程：1.3 mm
• 標準載玻片和蓋玻片樣品架
• 樣品尺寸（可選）：≥50.8 mm×50.8 mm×5 mm（中心25 mm×25 mm范圍內(nèi)可以任意區(qū)域成像）

AFM測試頭HE001

激光波長：1300nm

激光對生物樣品無影響；

激光對光電測量無影響

系統(tǒng)噪聲：< 0.03 nm

全電動：4步進電機用于懸臂和光電二極管自動對準；

探針通道：為外部操作和探針提供自由通道

頂部和側向同時光路通道：帶平消色差物鏡，可同時10x，NA0.28頂部物鏡和20x，NA0.42側向物鏡

液體電池（可選）

手動樣品定位：15x15mm，定位分辨率1um；

培養(yǎng)皿支架：直徑35mm；

液體體積：1.5-2.5ml；

液體交換：雙管道

導電力AFM（選購）

電流范圍：100fA~10μA;

三檔量程自動切換（1nA, 100nA和10μA）

電壓范圍：-10~ +7V

電流噪聲：≤60fA（1nA量程）

兼容倒置光學顯微鏡：

紅外激光對光學成像無干擾；

可兼容以下顯微鏡：

尼康Ti-E、Ti-U、Ti-S、TE2000；奧林巴斯IX-71，IX-81；

相位反差、DIC和熒光技術（需本征光學聚光器）；

可升級到TRIOS平臺，用于光譜和TERS操作。

光學顯微鏡

數(shù)值孔徑：NA 0.1；

放大倍率：從85x到1050x（19英寸監(jiān)視器，1/3英寸CCD）；

水平視野：4.5～0.37mm；

手動變焦：12.5倍；

粗/精對焦單元：

兼容平顯色差物鏡：10x，NA 0.28和20x，NA 0.42和100x，NA0.7（取決于AFM測試頭）

軟件系統(tǒng)

自動準直系統(tǒng)；

自動配置標準測量技術；

自動調(diào)節(jié)懸臂梁共振頻率；

能夠處理力曲線；

宏語言Lua，用于編程用戶函數(shù)、腳本和小構件；

能用DSP宏語言對控制器進行實時編程，無需重新加載控制軟件；

在坐標空間處理圖像的能力，包括制作橫截面、擬合和高達8級的多項式曲面減法；

FFT處理，具有在頻率空間處理圖像的能力，包括濾波和分析；

納米蝕刻和納米操縱；

高達5000x5000像素圖像的處理能力